金屬化膜脈沖電容器壽命測試方法
要:
式( 1) 中,Ws为自愈能量; U为所加电压; n为系数。在其他一些学者的研究中,n在2 ~ 6 之间变动[3-4]。Kammermaier和Heywang指出表面自愈过程中金属脱离面积与自愈能量成正比[5-7],比例关系如下:
式( 2) 中,S为自愈面积; d为薄膜厚度。
在金属化膜脉冲电容器的寿命测试中,薄膜自愈造成的金属层蒸发是电容量损失的主要因素。因此电容器的寿命与电容器自愈能量相关。结合( 1) 与( 2) ,可得到式( 3) :
因此对于同种金属化膜脉冲电容器,寿命与电压的关系可以表示如下:
式( 4) 中,L为寿命; U为金属化膜脉冲电容器所加电压; m为系数。可以发现金属化膜脉冲电容器的寿命受到电压的影响显著,随着电压的升高,金属化膜脉冲电容器寿命近似呈指数关系下降。
式( 5) 中 β 为反峰系数,即反向电压峰值与正向电压峰值的比值,而一般电流反峰率与电压反峰率大小是一样的。
图2 测试回路原理图Fig. 2 Test circuit diagram
金属化膜脉冲电容器充电到设置电压后,再合上开关,假设合开关前的时间为0,因此0 时刻电流为零,起始电压与起始电流如下:
合上开关后回路方程如下:
方程特征根如式( 8) 、( 9) :